今年1月初，阿特斯集团公司发布新闻宣告，我们早已顺利向全球市场总计交付给2．6吉瓦阿特斯抗LeTID高效PERC组件。这是阿特斯在研发和获取高效率、高质量、高附加值太阳能组件产品方面大大希望，并获得突破性成果的一个最重要里程碑。LeTID（LightandelevatedTemperatureInducedDegradation），业界称作“光照和高温诱导波动”，或者叫“光热波动”。名称有些拗口，但是有一点大家花上些时间去理解它，因为它不会很大地影响你的太阳能组件和电站发电性能。
光伏行业对LID（LightInducedDegradation），也就是“光致波动”现象早已很理解。一般来说情况下，只要光伏组件曝露在阳光下就不会再次发生LID（光致波动），在短时间（几天或几周）内就能超过饱和状态的波动。行业对于LID（光致波动）的研究也早已十分充份，产生机制也取得完全一致接纳，主要是硅材料内的硼氧缺失。
因为晶体生长方法的差异，单晶硅材料内间隙氧含量远高于多晶，从而LID波动也远高于多晶。两到三年前PERC技术的推展还受限于LID（光致波动），随着抗LID波动技术的突破使LID获得较为有效地的掌控，加之设备的广泛应用，PERC技术以求大规模引入。然而LeTID波动机制有所不同，它一般来说再次发生在光照和高温（＞50°C）两个条件同时符合的情况下，并且LeTID对于PERC组件的发电量影响相当大。
PERC组件在实验室的测试条件和电站实际工作环境中都不存在LeTID（光热波动）现象。在组件工作温度多达50°C时，不论是单晶还是多晶PERC组件都会再次发生LeTID（光热波动），衰减率最低平均10％。
阿特斯技术研发团队通过多年对材料、工艺和生产设备的长年深入研究，研发出有了具备自律知识产权的LeTID控制技术。这使得阿特斯沦为少数几家掌控了在大规模生产过程中减少和掌控LeTID技术的太阳能电池和组件制造商之一。新南威尔士大学（UniversityofNewSouthWales，全称UNSW）2018年11月公布的一份研究报告表明，阿特斯基于黑硅和多晶PERC技术的P4组件的开路电压（Voc）在166小时的电离辐射、75°C测试条件下，只有0．3％的波动。
这个测试结果佐证了阿特斯P4组件出色的抗LeTID波动性能。所以下次当您再行出售PERC太阳能组件时，无论单晶还是多晶，请求切勿再行理解制造商对LeTID的推崇和理解程度。同时可以问问他们如何掌控和解决问题LeTID问题，并请求他们向您展出一些可靠的第三方测试报告。几年后你将不会为此深感难过。
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